Perancangan dan kalibrasi blok sistem untuk set inspeksi mikrometer kapasitas 25 mm - 50 mm
Penerbit : FTI - Usakti
Kota Terbit : Jakarta
Tahun Terbit : 2008
Pembimbing 1 : Bimbing Atedi
Subyek : Measurement quality;Micrometer calibration system
Kata Kunci : quality, measurement guidance, block system
Status Posting : Published
Status : Tidak Lengkap
No. | Nama File | Hal. | Link |
---|---|---|---|
1. | 2008_TA_STE_06103005_Halaman-Judul.pdf | 13 | |
2. | 2008_TA_STE_06103005_Lembar-Pengesahan.pdf | 2 | |
3. | 2008_TA_STE_06103005_Bab-1_Pendahuluan.pdf | 3 | |
4. | 2008_TA_STE_06103005_Bab-2_Tinjauan-Pustaka.pdf |
|
|
5. | 2008_TA_STE_06103005_Bab-3_Metodologi-Penelitian.pdf |
|
|
6. | 2008_TA_STE_06103005_Bab-4_Analisis-Hasil-dsn-Pembahasan.pdf |
|
|
7. | 2008_TA_STE_06103005_Bab-5_Kesimpulan-dan-Saran.pdf | 2 | |
8. | 2008_TA_STE_06103005_Daftar-Pustaka.pdf | ||
9. | 2008_TA_STE_06103005_Lampiran.pdf |
|
K egiatan kalibrasi bertujuan untuk meningkatkan kualltas pengukuran dalam penunjukkan alat ukur dan benda ukur. Penelitian yang dilakukan yaitu dengan mengetahui hasi I sistem kalibrasi mikrometer luar terhadap block system for st ep inspection micrometer ya ng mempunyai rentang ukur 25-50 111111 dengan panjang nomina l 25 mm, 27,5 111111, 30,1 mm, 32,7 mm , 35,3 111111, 37,9 mm, 40 111111, 42,6mm, 45,2 mm, 47,8 111111, 50 111111. Sistem kalibrasi mikrometer ini mengacu kepadametode JIS B 7502.Pengukuran penyimpangan panpng nominal block system diukur dengan menggunak.an alat ukur Cf\\lf\\1 Vision dengan resolusi O,l tm. Sehingga pen) tmpangan tcrbesar yang diperoleh 3,3 Lm dan 111cmpunya1 nilai kctidakpastian ± I ,4896 Lm.Proses pemesinan diharapkan bisa memenuhi ukuran standar yang ditctapkan.Tetapi setelah diusahakan dengan proses yang maksimal , ana l isa data dan basilpengukuran h!ock system masih jauh setidaknya untuk kelas 2 men urut standar .liS8 7506. Bahkan untuk kel as 3 pun masih belum memenuhi tolcransi yangdiijinkan sehingga perlu dilakukan proses lebih lanjut.
C alibration activity have a purpose to improve quality of measurement for object measurement and device measurement guidance. Researching has done by knowing the result of calibration system outside mikrometer toward block system for step inspection micrometer that has range 25 mm - 50 mm with nom inal length 25 mm , 27,5 mm, 30,1 mm, 32,7 mm, 35,3 mm , 37,9 mm, 40 mm, 42,6 mm , 45,2 mm, 47,8 mm , 50 mm. This calibration system of mi crom eter method is according to the JIS B 7502 standard.The deviation on measurement for nominal length bl ock system was examined by CMM Vision with accuracy 0, I Jlm. So the biggest results of deviation 3,3 Jlm and the uncertainty value± 1,4896 )lm.Machining process are expect can fulfill standard of measure. Neverthe less after exceed maximum process, data analysis and measurement result of block system weren\'t appropriately at least for grad e 2 according to JI S B 7506 standard . Eventhough for grade 3 still not reach yet the limit of tol erance, indeed more process need to be work out.